Mate2024(第30回「エレクトロニクスにおけるマイクロ接合・実装技術」シンポジウム)にて発表予定です

作成:2023-12-20 更新:

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Mate2024(第30回「エレクトロニクスにおけるマイクロ接合・実装技術」シンポジウム)にて発表予定です

はんだ被覆範囲測定結果例

Mate2024(第 30 回「エレクトロニクスにおけるマイクロ接合・実装技術」シンポジウム)の詳細

Mate2024の参加申込より、お申し込みすることができます。発表内容は、以下のようになります。

  • 「深層学習を利用したはんだボイド率・はんだ被覆範囲の自動測定手法の開発」
  • 1/23 ポスターセッション
    研究開発部 人工知能研究チーム 植木 竜佑
  • 「深層学習を利用した BGA におけるはんだクラック進展三次元解析」
  • 1/24 口頭発表
    研究開発部 実装技術研究チーム 長谷川 将司
  • 「線膨張係数の異なる基板材料におけるはんだクラック三次元解析」
  • 1/24 口頭発表
    環境試験センター 第 1 課 鬼塚 梨里
会期2024年 1月23日(火)~ 24日(水)
開催場所パシフィコ横浜 会議センター
主催(一社)スマートプロセス学会 エレクトロニクス生産科学部会
(一社)溶接学会 マイクロ接合研究委員会
共催(一社)エレクトロニクス実装学会
(公社)化学工学会 エレクトロニクス部会
(一社)レーザ加工学会

はんだボイド率を測定したい場合

VoidRoid

VoidRoid

はんだボイド率測定アプリ

はんだ 3D クラック率を測定したい場合

QrackDroid3D

QrackDroid3D

はんだ3Dクラック率測定アプリ

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